Werth Contour Probe WCP
Der Tastschnittsensor für Profil- und Rauheitsmessung (Patent)
Aufgaben, die bisher durch Tastschnittgeräte (auch Konturographen genannt) gelöst wurden, können durch den Werth Contour Probe (Patent) von Multisensor-Koordinatenmessgeräten miterledigt werden. Der taktil optische Tastschnittsensor ermöglicht erstmals eine taktile Konturmessung in definierten Werkstückkoordinaten.
Werth aktuell
Mit dem Nano-Focus-Probe (NFP) bietet die Werth Messtechnik GmbH erstmals die exklusive Integration eines hochgenauen, konfokalen Flächensensors der Nanofocus AG in ein Multisensor- Koordinatenmessgerät.
Nano Focus Probe